電子パッケージと試験機器をインターフェースするための装置

Abstract

ICなどの電気デバイスを試験するための試験装置(10)が提供される。試験装置はDUTボード(14)に装着された試験ソケット(12)を含み、そこではコンタクトプランジャアセンブリ(20)が少なくとも部分的に配置される。

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